G-FLAT™ Siliziumoxid X-Ray Fenster
G-FLAT™-Röntgenfenster aus Siliziumoxid
- Rahmen 310µm dick
- Patentierter, faltenfreier G-Flat™-Siliziumoxidfilm
- Kompatibel mit Ultrahochvakuum-Anwendungen (UHV) (300nm-Membran)
- Nicht porös
Beschreibung
TEM Fenster mit Siliciumoxide Beschichtung sind ideale Substrate für die Röntgenmikroskopie und -spektroskopie. Flache, gleichmäßig aufgetragene Filme sorgen für konsistente Hintergründe mit geringer Feld-zu-Feld-Variabilität und hoher Röntgendurchlässigkeit.
Die patentierten, faltenfreien G-FLAT™-Siliziumoxidmembranen eignen sich gut für korrelative optische und Röntgen-Mikroskopie sowie Analysen, die einen stickstofffreien Hintergrund erfordern. Diese in modernster Fertigung hergestellten Röntgenfenster können vollständig mit Plasma gereinigt werden, um organische Verunreinigungen zu entfernen.
In 100nm und 300nm Dicke erhältlich, wobei die 300nm-Membran auch für Ultrahochvakuum-Anwendungen kompatibel ist.
Weitere Informationen
| Verpackungseinheit | 10 Stück |
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| Hersteller |
EMS
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