+49 (089) 18 93 668 0 - Info@ScienceServices.de   Wir sind für Sie da! Rufen Sie uns an oder fordern Sie   hier einen Rückruf an.
Sprache

Silizium Testobjekt für Lichtmikroskopie (Auflicht)

P79502-20

Dieses Testobjekt wurde aus einem 5x5mm großem Siliziumkristall durch Ätzung hergestellt. Die Quadrate wiederholen sich alle 10µm. Die Trennlinien sind 1.9µm breit. Eine dickere Trennlinie erscheint alle 500µm.
58,20 € 69,26 €

Produktdetails

Beschreibung

Silicone Test Specimen

The test specimen consists of lines etched into a single crystal silicon substrate. They have been written by electron beam machinery, and consist of a square mesh of course lines of 500µm spacings with 50 intermediate fine lines of 10µm spacings.

The 10µm pitch has been measured using an automatic line width measuring system. The measurements obtained from wafer number ENG 1148-3 are shown below:

Position
Pitch Measurement µ
1
10.010
2
10.010
3
10.050
4
10.050
5
10.010
6
10.010
7
10.030
8
9.987
9
10.010

 

Max
10.050
Min
9.887
Mean
10.019
3 Sigma
0.059

Weitere Informationen

Weitere Informationen
Anwendung
LM
REM
Typ
Kalibrierstandards
Vergrößerung geringe Vergrößerung
Verpackungseinheit 1 Stück