AFM
(2)Die AFM Messer von DiATOME wurden speziell für die Präparation von Probenoberflächen für die Rasterkraftmikroskopie (AFM) entwickelt und ermöglichen Oberflächenrauigkeiten im Nanometerbereich – eine entscheidende Voraussetzung für präzise topographische und mechanische Messungen.
Die Messer eignen sich für biologische Proben, Polymere und andere Materialien, sowohl eingebettet (z. B. in Epoxidharzen) als auch nicht eingebettet.
Durch die optimierte Schneidgeometrie wird die Oberflächenqualität signifikant verbessert und Artefakte reduziert werden.
Arbeiten Sie mit weicheren oder temperaturempfindlichen Proben, die Tieftemperatur zum Präparieren benötigen?
Die cryo AFM Messer sind für den Einsatz bei Tieftemperaturen ausgelegt und unterstützen bei der Erzeugung glatter Probenoberflächen.